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电子元器件压力蒸煮试验

一、事情原理:

将被试元器件放入密封高压加速老化试验箱,试验箱中加入几个大气压的蒸汽强迫湿气进入元器件的封装层中,以此来评价元器件的防潮性能,使用这种要领与恒温、恒湿试样要领相较量,能在短得的多的时间内对元器件性能作出评价,使元器件的防潮性能在研制阶段便可清晰。

二、主要用途:

接纳加速方式来磨练器件耐湿、耐热的能力及可靠性水平。

三、试验仪器:

R-HAST-350高压加速老化试验箱(121℃0. 215Mpa)TVR6000 综测仪

四、操作规范:

4.1要严酷an照R-HAST-350高压加速老化试验箱“手艺说明书”操作顺序操作。

4.2通例产物划定每季度做一ci周期试验,试验条件及判据接纳或等效接纳产物尺度;新产物、新工艺、用户特殊要求产物等an妄想举行。

4.3接纳LTPD的抽样要领,在ci试验不及格时,可接纳追加样品抽样要领或接纳筛选要领重新抽样,但无论何种要领只能重新抽样或追加一ci。

4.4LTPD=10%,则抽22只,0 1退,追加抽样为38只,1 2退。抽样必须在0QC磨练及格制品中抽取。

五、情形条件

(1)尺度状态

尺度状态是指预处置赏罚,后续处置赏罚及试验中的情形条件。叙述如下: .

情形温度: 15~35 

相对湿度:  4575%

(2)判断状态

判断状态是指初测及终测时的情形条件。叙述如下:

情形温度:  25±3

相对湿度:  4575%

六、试验条件及判据:


蒸煮试验

七、注重事项:

①每ci做试验合上槽蓋以前(特殊是在循环做试验qing况下),务必检查槽内水量;
②务必保持槽内清洁,经常去除槽内污物;
③此试验台时间设定较短,务必注重时间的再设定。 

八、高压加速老化试验箱简介:

HAST高压加速老化试验箱是使用在加压和温度受控的情形中施加过热蒸汽的非冷凝(不饱和要领),将外部掩护质料、密封剂或外部质料和导体之间通过加速水分渗透的作用举行试验;一ban是在设定的温度和湿度条件下一连施加压力来完成的。本装备普遍用于IC半导体、毗连器、线路板、磁性子料、高分子质料、EVA、光伏组件等行业相关之产物作加速老化寿命试验。

HAST高压加速老化试验箱

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